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淺談NDT及典型技術(shù)

時(shí)間:2018-06-05 來(lái)源: 作者: 攝影: 編輯:

主講人:Gerd Dobmann

時(shí)間:6月6日(星期三)下午2:00

地點(diǎn):電控學(xué)院D416會(huì)議室(90人)

主講人介紹:

Gerd Dobmann,德國(guó)薩布呂肯大學(xué)教授,現(xiàn)任世界無(wú)損檢測(cè)委員會(huì)特種檢測(cè)分會(huì)執(zhí)行主席,曾任德國(guó)Fraunhofer無(wú)損檢測(cè)技術(shù)研究所執(zhí)行所長(zhǎng)、德國(guó)無(wú)損檢測(cè)學(xué)會(huì)主席、國(guó)際焊接學(xué)會(huì)(IIW)第五委員會(huì)主席、2016年世界無(wú)損檢測(cè)大會(huì)主席,曾獲德國(guó)Fraunhofer榮譽(yù)獎(jiǎng)?wù)?、英?guó)無(wú)損檢測(cè)學(xué)會(huì)Roy Sharpe獎(jiǎng)?wù)?。曾帶領(lǐng)團(tuán)隊(duì)研發(fā)了包括多功能微磁無(wú)損檢測(cè)儀3MA在內(nèi)的多款重量級(jí)產(chǎn)品。




主辦單位:電氣工程與控制科學(xué)學(xué)院


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